鲁大师通过读取硬盘SMART中“Power-On Hours”参数获取累计运行小时数，以此判断硬件新旧与损耗程度，具体可通过硬件检测、硬件健康、磁盘检测、SMART信息页及CrystalDiskInfo交叉验证五种方式实现。

如果您希望快速掌握硬盘的实际使用强度，鲁大师可直接读取硬盘SMART信息中的“Power-On Hours”参数，该数值即为硬盘自出厂首次加电起累计运行的小时数，是判断硬件新旧与损耗程度的关键实测指标。以下是具体操作步骤：

一、通过硬件检测模块查看通电时间

该方法利用鲁大师对硬盘固件底层SMART数据的解析能力，无需额外驱动或系统权限，适用于绝大多数SATA机械硬盘及主流NVMe固态硬盘。

1、启动鲁大师软件，确保已运行最新正式版。

2、点击主界面顶部菜单栏中的硬件检测选项。

3、在左侧功能列表中，找到并点击硬盘信息。

4、右侧窗口列出所有识别到的存储设备，查找标有磁盘已使用或通电时间的字段，其数值单位为小时（h）。

5、若系统存在多块硬盘，点击目标硬盘条目右侧的下拉箭头，选择对应设备单独查看。

二、借助硬件健康模块比对硬件一致性

该方式通过横向对比主板、内存、显卡与硬盘的通电时长及次数，识别是否存在混装、翻新或二手替换等异常组合，提升判断可靠性。

1、在鲁大师主界面，点击左侧导航栏中的硬件健康。

2、等待各项数据加载完成，观察列表中各部件的已使用时间与通电次数。

3、重点核对硬盘与主板的通电时间差值：若硬盘使用时间超过主板20倍以上，或内存通电次数为0而硬盘已达数百小时，则高度提示为非原厂整机配置。

4、记录硬盘通电时间数值，若超过20小时，需结合物流周期与激活流程综合判断是否属正常全新机范畴。

三、调用磁盘检测功能执行主动扫描

该方法不依赖静态SMART读取，而是向硬盘发送底层指令进行全盘响应测试，可发现通电时间未体现但已存在的物理层隐患，如待映射扇区增长、校验错误累积等。

1、返回鲁大师主界面，定位右下角功能大全区域。

2、点击其中的磁盘检测按钮。

3、在弹出窗口中，从下拉菜单选择目标硬盘或具体分区。

4、点击开始扫描，等待进度条完成（通常耗时2–8分钟）。

5、扫描结束后，查看结果评级：显示为优良/良好/正常表示当前无明显异常；若出现瑕疵/丢失/严重提示，则表明存在逻辑错误或物理损伤风险。

四、切换至SMART信息页查看原始参数

该方式呈现未经鲁大师二次处理的原始SMART属性表，便于技术用户对照厂商阈值识别早期衰减信号，尤其适用于通电时间读数模糊或缺失的情况。

1、完成磁盘检测后，点击扫描结果页顶部的SMART信息标签页。

2、查找关键属性项，包括：09 Power-On Hours（通电时间）、C5 Current Pending Sector Count（待映射扇区数）、C6 Uncorrect（无法校正错误数）。

3、检查各项目“当前值”是否低于“最差值”，或“当前值”≤“阈值”且“状态”显示为警告。

五、使用CrystalDiskInfo交叉验证通电数据

当鲁大师未能正确解析通电时间、SMART状态异常或显示为空白时，可启用第三方专业工具获取更完整、更底层的固件反馈，规避单一软件兼容性限制。

1、下载并运行CrystalDiskInfo绿色免安装版。

2、软件启动后自动加载全部磁盘，主界面直接显示Power-on Time（通电时间）与健康状态标识（Good/Warning/Bad）。

3、对比其显示的通电小时数与鲁大师读数，若偏差超过±5%，应优先采信CrystalDiskInfo数据，并检查鲁大师版本兼容性。