1.宁德新能源“负极极片及包含其的电化学装置、电子装置”专利获授权
2.感图科技“获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”专利公布
3.普冉半导体“晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质”专利公布
1.宁德新能源“负极极片及包含其的电化学装置、电子装置”专利获授权
天眼查显示，宁德新能源科技有限公司近日取得一项名为“负极极片及包含其的电化学装置、电子装置”的专利，授权公告号为CN115280550B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2021年7月9日。
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本申请涉及一种负极极片及包含其的电化学装置、电子装置。本申请提供了一种负极极片，其包括：负极集流体以及多孔层。该多孔层位于负极集流体上，且所述多孔层包括含有电性绝缘纤维的三维骨架。三维骨架经配置能够用于容纳锂金属沉积。本申请的负极通过设置包含三维骨架的多孔层及采用电性绝缘的三维骨架材料，能够在电化学装置的充放电循环中有效改善负极表面上的锂金属沉积情形；并抑制锂金属的体积膨胀；同时减缓锂枝晶的生长，进而提高电化学装置的循环性能，容量性能以及安全性能。
2.感图科技“获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”专利公布
天眼查显示，上海感图网络科技有限公司“获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119624903A。
本申请公开获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，涉及图像检测领域。通过线扫相机扫描PNL物料板的全景图，从全景图中截取板边周围的光学点Mark图像；将Mark图像输入至缺陷检测模型，根据Mark点类型进行缺陷检测；确定Mark点的缺陷类型，根据缺陷类型从标签库中匹配缺陷标签，并输出缺陷识别结果。截取Mark图像输入至缺陷检测模型，可支持多输入小图并行检测，避免全景图识别消耗过多算力和识别进度不高的问题。对于切割的各个Mark图像，可根据训练号的模型进行更高精度的识别，逐个分子Mark点的缺陷类型并打标签后输出，实现定向检测输出，提高检测的良品率。
3.普冉半导体“晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质”专利公布
天眼查显示，普冉半导体（上海）股份有限公司“晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119619805A。
本发明涉及晶圆测试技术领域，提供一种晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质。测试机的探针卡中的每个探针均有所属的探针组，每个探针与相邻位置的探针属于不同的探针组。该方法包括：首先根据待测晶圆的晶圆型号，获得对应的目标信号采样时间点集；然后在每个测试周期，依次控制每个探针组对待测晶圆中裸片进行测试，得到每个探测组的测试结果；最后将全部探针组的测试结果作为一个测试周期的测试结果。通过对探针分组，扩大了测试时探针之间的距离，降低了不同探针之间的信号干扰。并且降低了不同测试机的性能差异对于晶圆测试的影响，提高了晶圆测试的稳定性和准确性。
