电脑冷启动失败时需在完全断电后首次上电场景下，针对电解电容低温劣化、干涸失效、ESR升高、容量衰减等多重模式逐项验证；重点检查AC输入端和主开关管附近的高压（如100μF/400V）与低压（如2200μF/16V）滤波电容，目视封口胶裂纹或晶状析出，结合冷态电阻法（<20kΩ即失效）、ESR对比法（低温ESR超常温3倍即劣化）、电压跌落测试（空载→带载压降>0.8V）及-10℃恒温2小时后短接启动验证，综合判定电容低温特性失效。
电脑冷启动失败时，需在完全断电后的首次上电场景下，针对电解电容低温劣化、干涸失效、ESR升高、容量衰减等多重失效模式，逐项验证其物理状态与电气参数。
断电后目视锁定低温敏感电容
关机→拔掉电源线→静置3分钟让残压自然泄放→卸下电源外壳。重点检查靠近AC输入滤波端和主开关管散热片附近的两组电容：一组是标称值为“100μF/400V”或“47μF/400V”的高压滤波电容（通常为细长圆柱体，印有红色或黑色胶皮），另一组是标称“2200μF/16V”或“3300μF/10V”的低压输出主滤波电容（矮胖型，多位于次级整流桥附近）。
用LED手电筒以45°角斜照电容顶部，【鼓包电容在冷态下凸起不明显，但封口胶边缘若出现细微裂纹或微小晶状析出物，即表明电解液已发生低温相变，必须更换】。尤其注意那些外壳印有“85℃”字样的普通电容，它们在15℃以下就可能启动延迟；而标“105℃”的电容则相对稳定。
离线测量低温漏电与ESR
方法一：冷态电阻法（快速初筛）
将可疑电容从PCB焊下→置于冰箱冷藏室（约4℃）静置30分钟→取出立即用数字万用表Ω×10k档测反向漏电：红表笔接负极，黑表笔接正极。正常电容应显示50–200kΩ并缓慢上升；若读数
方法二：ESR对比法（精准判定）
使用带ESR功能的专用电容表，在室温（25℃）和低温（5℃）下分别测量同一颗电容的等效串联电阻。若低温ESR比常温值高出3倍以上（例如常温0.02Ω→低温0.06Ω），即确认其低温特性严重劣化，不可继续使用。
短接自检+电压跌落对比测试
第一步：断开所有输出线缆，仅保留24Pin主接口，用回形针短接PS_ON（绿线）与GND（黑线）。
第二步：接通市电，用万用表直流20V档监测+12V（黄线）对地电压，记录空载稳定值（应为12.0–12.3V）。
第三步：在24Pin接口第1脚（+12V）与第11脚（GND）之间并联一个5Ω/50W水泥电阻（模拟约2.4A负载），观察电压是否在3秒内跌至11.2V以下——【跌落超0.8V即表明主电容储能失效】。
第四步：断电后立即用示波器探头（或带FFT功能的万用表）捕获+12V纹波峰峰值，若>120mV（满载时），证实电容ESR升高导致高频滤波崩溃。
确认低温冷启动测试前提条件
将被测ATX或SFX电源单独放入可编程高低温试验箱，设定-10℃恒温2小时后取出，立即执行短接启动测试。若此时仍无法起振，而室温下可正常工作，则排除环境干扰，锁定为电容低温特性失效。
